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1. 纳米粒度仪的原理

1、纳米粒度仪的原理

Litesizer 500纳米颗粒及Zeta电位分析仪主要是测颗粒度大小、分布，测量范围从几十纳米到几微米。它可通过测量动态光散射（DLS）、电泳光散射（ELS）和静态光散射（SLS）来测定颗粒尺寸；zeta电位测量采用新型cmPALS技术，使得zeta电位测量的准确性达到zui高。

马尔文粒度仪属于纳米粒度仪 工作原理：动态光散射法（DLS），有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用最新技术，粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。

先进的测试原理：本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中布朗运动的速度测定颗粒大小。具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性。

众所周知，国内的激光粒度仪企业，全部采用的是“静态光散射理论”，此理论测试的有效下限只能达到50纳米，对于更小的颗粒则无能为力。

其核心在于利用激光的特性，如单色性和极强的方向性，测量颗粒对光的散射特性，进而揭示粒度分布的秘密。当激光束遇到颗粒，部分光束会偏离原方向，散射角θ与颗粒尺寸息息相关：大颗粒导致小角度散射，小颗粒则产生大角度散射，如图1所示。

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